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半導體分立器件測試系統

發布時間:2017-07-06 分享到:

ENJ2005-B半導體分立器件測試系統概述:

設備擴展性強,通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座,自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結果準確可靠。

面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果,前面板的功能按鍵方便了系統操作。通過功能按鍵,系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。

系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接口,可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

系統特征:

●測試范圍廣(19大類,27分類)

● 升級擴展性強,通過選件可提高電壓電流,和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯最大升級至2000V,1250A

●采用脈沖測試法,脈沖寬度為美軍標規定的300uS

●被測器件引腿接觸自動判斷功能,遇到器件接觸不良時系統自動停止測試,確保被測器件不受損壞

●真正的動態跨導測試。(主流的直流方法測動態跨導,其結果與器件實際值偏差很大)

●系統故障在線判斷修復能力,便于應急處理排除故障

●二極管極性自動判別功能,無需人工操作

測試參數:

漏電參數:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

擊穿參數:BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、VD、  BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO

增益參數:hFE、CTR、gFS、

導通參數:VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、Notch = IGT1,IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)

混合參數:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

關斷參數:VGSOFF      

觸發參數:IGT、VGT

保持參數:IH、IH+、IH-

鎖定參數:IL、IL+、IL-


易恩電氣,致力于全球電力電子測試方案提供商,主要提供電力電子相關的大功率分立器件測試儀IGBT測試儀變流器IGBT測試儀牽引系統IGBT測試儀,半導體參數圖示儀、IGBT動態參數測試儀MOS管動態參數測試儀、IPM測試儀、雪崩耐量測試儀、浪涌測試儀等功率半導體測試設備.


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